數顯立式光學計的優點是：

　　1.擺脫了信號累加計數方式，依據像元序號計數，從信號接收到輸出均為純數字量，無須電子細分，因此對信號質量要求寬松，抗干擾性強，計數穩定性好。

 

　　2.計數的依據是光帶落在CCD像元上的序號，在這之前途經的像元不參加計數，因此不存在漏計數問題，給使用帶來了方便。

 

　　3.可以利用軟件對光學杠桿正切函數的非線性和CCD像元位置誤差進行區段修正，因此示值精度更容易控制。

 

　　4.采用液晶屏顯示，除顯示數字外，增加了模擬標尺，利用光標在標尺上的左右移動指示當前接收像元在整個測量范圍中所處的位置，能幫助操作者快速調整示值零位和方便找拐點操作。

 

　　數顯立式光學計的實驗操作步驟：

　　1、記錄數據

　　分別記錄下量塊組的基本尺寸L和立式光學計的偏移量讀數，進行數據處理得到塞規的尺寸。將測量結果與國標中塞規的尺寸公差進行比較，判斷塞規是否合格。

 

　　2、選擇測頭

　　測頭有球形、平面形和刀口形三種，根據被測零件表面的幾何形狀來選擇，使測頭與被測表面盡量滿足點接觸。測量平面工件時，選擇球形測頭；測量球面工件時，選擇平面測頭；測量圓柱面工件時，應選用刀口形測頭。

　　塞規的測量面為圓柱形，因此本實驗應選用刀口形測頭。

 

　　3、調整儀器零位

　　將量塊組放在工作臺上，先調整光學計立柱的升降螺母，使測頭的高度略低于量塊上表面，鎖緊升降螺母。壓下壓桿抬起測頭，將測頭緩緩放到量塊上表面，避免沖擊。然后按下reset歸零按鈕，顯示屏示數為0，完成儀器調零，測頭的此位置為零位。按下壓桿，抬起測頭，取下量塊組。

 

　　4、測量塞規

　　測量時，按下壓桿，將塞規放在工作臺上，放下測頭，壓在塞規上表面。等顯示屏示數穩定后，讀取示數，即為塞規相對基本尺寸零位的偏移量△L。

 

　　5、進行隨機誤差分布規律實驗

　　再次對塞規測量，并且盡可能測量塞規同一部位，反復測量100次，注意每測完3～5次必須對儀器重新調零。然后要對測量數據進行處理，作出直方圖并求出標準偏差和極限測量誤差。

 

　　6、根據被測塞規的基本尺寸組合量塊

　　由于光學計測頭的活動范圍為10mm，因此組合量塊的尺寸與塞規的基本尺寸差值應在10mm以內，方便測量。

　　量塊上有防銹油，使用前先用棉紗將量塊擦干凈，尤其是兩個基本尺寸面。拿起量塊時，不要碰觸到基本尺寸面。